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ZEM 20

臺式掃描電子顯微鏡ZME 20采用更加寬泛的加速電壓，1KV步進，換樣時間僅需30秒，最大放大 36萬倍，標配減速模式，滿足弱導電樣品不噴金直接觀察、電子束敏感樣品無損觀察的要求。

特點

易用性強、兼容擴展性強、超快抽真空時間、高速信號采集、多種成像模式、高分辨觀測

ZEM 20技術參數(shù)

型號	ZEM 20臺式掃描電子顯微鏡
環(huán)境要求	AC 220V,50Hz，1kW,無需減震臺
加速電壓	3kV~18kV連續(xù)可調,1kV步進
電子槍	預對中鎢燈絲，一體式聚光鏡，無需手動調節(jié)物鏡光闌，可選配LaB6燈絲
放大倍數(shù)	25~360000倍
探測器	四分割背散射電子探測器、二次電子探測器、集成式能譜儀(選配)
樣品臺行程	三軸:X:60mm，Y:60mm，T:±45° 五軸(選配):X:90mm,Y:50mm,2:25mm,R:360°,T:-10°-90°