GB/T 2423.24-2013出版概況

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)GB/T 2423.24-2013

中文名：GB/T 2423.24-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則

英文名：Enviromental testing.Part 2:Test methods.Test Sa:Simulated solar radiation at ground level and guidance for solar radiation testing

發(fā)布日期2013-11-12

實(shí)施日期2014-03-07

廢止日期無(wú)

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)K04 

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)19.040 

發(fā)布單位CN-GB

引用標(biāo)準(zhǔn)CIE 85-1989 GB/T 2421.1-2008 GB/T 2423.1-2008 GB/T 2423.2-2008 GB/T 2423.3-2006

被代替標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.24-1995 GB/T 2424.14-1995

GB/T 2423.24-2013簡(jiǎn)介

GB/T 2423.24-2013是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射》的測(cè)試方法。

GB/T 2423.24-2013是GB/T 2423的第24部分，GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見(jiàn)資料性附錄NA。

本部分按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草。

本部分代替GB/T 2423.24 1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射》和GB/T 2424.14-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》。

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GB/T 2423.24-2013更新部分

本部分整合了GB/T 2423.24 -1990及GB/T 2424.14 1995的相關(guān)內(nèi)容，與GB/T 2423.241995和GB/T 2424.14 --1995相比，主要技術(shù)變化和編輯性修改如下：

增加了目次、前言;

——增加了第2章“規(guī)范性引用文件”、第3章“術(shù)語(yǔ)和定義”、第10章“試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息”;

——?jiǎng)h除了GB/T 2423.24 1995中4.6對(duì)試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的推薦值;

——?jiǎng)h除了GB/T 2424.14 1995第9章“危險(xiǎn)和人身安全”;

——?jiǎng)h除了GB/T 2424.14 1995的附錄A“輻射強(qiáng)度調(diào)整的計(jì)算”、附錄B“經(jīng)基底的熱傳輸”;

——GB/T 2424.14 1995第8章“試驗(yàn)結(jié)果的解釋”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄A，并在內(nèi)容上做了修改;

——GB/T 2424.14 1990第5章“輻射光源”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄B，并在內(nèi)容上做了修改;

——GB/T 2424.14-1990第6章“測(cè)量?jī)x表”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄C，并在內(nèi)容上做了修改;

——溫度偏差的單位用“K”取代“℃”;

——光譜能量分布由CIE 20推薦值改為CIE 85推薦值;

——在附錄C中，規(guī)定了采用IS0 4892描述的設(shè)備進(jìn)行本部分規(guī)定的試驗(yàn)。

本部分采用翻譯法等同采用IEC 60068-2-5：2010《環(huán)境試驗(yàn)第2-5部分：試驗(yàn)試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則》。

與本部分中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下：

——GB/T 2421.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南(IEC 60068-1：1988，IDT)

——GB/T 2423.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫(IEC 60068-2-1: 2007 ,IDT)

——GB/T 2423.2 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫(IEC 60068-2-2: 2007 ,IDT)

——GB/T 2423.32006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)(IEC 60068-2-78: 200I,IDT)

本部分與IEC 60068-2-0：2010相比，主要做了下列編輯性修改：

一一本部分的名稱改為：“環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則”;

-IEC原文第2章中的引用文件“CIE 85：1985”年份有誤，應(yīng)為“CIE 85：1989”，本部分予以更正，見(jiàn)腳注1);

——增加了腳注2);

——更正了表1中紅外線輻照度數(shù)值，由“186 W/1112'’改為“411.62 W/rr12'’，增加了表1的注和腳注6;

——正文中三處升降溫速率由原文的“1 K/min的速率”改為“小于1 K/min的速率”，見(jiàn)條文腳注3)、4)、5);

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