產(chǎn)品簡(jiǎn)介

氙燈光老化測(cè)試是用來測(cè)試硅膠產(chǎn)品耐紫外線老化性能的一種測(cè)試方法。紫外線是一種特殊的電磁波，具有高能量和高穿透性，可以穿透大氣層，直接照射到地球表面。紫外線輻射會(huì)使硅膠產(chǎn)品變脆、變色、變質(zhì)、變形等現(xiàn)象，影響硅膠產(chǎn)品的使用性能和外觀，因此，需要進(jìn)行氙燈老化測(cè)試來檢測(cè)硅膠產(chǎn)品的耐紫外線老化性能。

為了確保IC芯片的可靠性，需要進(jìn)行氙燈光老化測(cè)試，以檢測(cè)其對(duì)溫度、濕度、電壓等環(huán)境變化的響應(yīng)性能。氙燈光老化測(cè)試可以幫助檢測(cè)出IC芯片中可能存在的潛在缺陷，從而確保芯片的可靠性。氙燈光老化測(cè)試可以檢測(cè)出IC芯片中可能存在的結(jié)構(gòu)性缺陷，從而確保芯片的可靠性；可以幫助檢測(cè)出IC芯片中可能存在的電氣性缺陷，從而確保芯片的可靠性。

Q-SUN氙燈光老化試驗(yàn)箱可用于硅膠，abs塑料，pvc，薄膜，IC芯片等產(chǎn)品的氙燈耐候老化測(cè)試。

產(chǎn)品特色

產(chǎn)品圖

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