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標(biāo)準(zhǔn)化的零部件清潔度測(cè)試

來(lái)源:翁開(kāi)爾有限公司
發(fā)布時(shí)間:2019-07-19T17:07:38
汽車行業(yè)中關(guān)于清潔部件的要求,最早是由羅伯特·博世公司(Robert Bosch)在1996年為了提高柴油汽車發(fā)動(dòng)機(jī)總成噴射系統(tǒng)的生產(chǎn)質(zhì)量而提出的。由于總成的高壓,羅伯特·博世縮小了噴嘴的尺寸至200μm甚至更小。但他們很快意識(shí)到,在生產(chǎn)流程過(guò)后這種小噴嘴很容易被系統(tǒng)中殘留的污染顆粒堵塞。由于這種新觀念的出現(xiàn),提出了對(duì)生產(chǎn)中清潔部件的質(zhì)量規(guī)范。這也是零部件清潔度測(cè)試的誕生。

汽車行業(yè)中關(guān)于清潔部件的要求,最早是由羅伯特·博世公司(Robert Bosch)在1996年為了提高柴油汽車發(fā)動(dòng)機(jī)總成噴射系統(tǒng)的生產(chǎn)質(zhì)量而提出的。由于總成的高壓,羅伯特·博世縮小了噴嘴的尺寸至200μm甚至更小。但他們很快意識(shí)到,在生產(chǎn)流程過(guò)后這種小噴嘴很容易被系統(tǒng)中殘留的污染顆粒堵塞。由于這種新觀念的出現(xiàn),提出了對(duì)生產(chǎn)中清潔部件的質(zhì)量規(guī)范。這也是零部件清潔度測(cè)試的誕生。

自此之后,在汽車系統(tǒng)中很多可靠性問(wèn)題都已被歸因于微粒子污染,也即是零部件清潔度不足(如圖1)。

顆粒物污染的失效模型

圖1:顆粒污染物造成的典型失效模型

自1996年開(kāi)始,由于零部件清潔度相關(guān)性數(shù)據(jù)的平穩(wěn)上升,在2005年德國(guó)汽車行業(yè)協(xié)會(huì)由此而出版了VDA-19標(biāo)準(zhǔn)。VDA-19標(biāo)準(zhǔn)從而成為全球范圍內(nèi)非常有用的文件,該文件也成為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO-16232的清潔度檢測(cè)的藍(lán)圖。值得注意的是,2009年出版的ISO-16232已經(jīng)發(fā)展到與德國(guó)VDA-19標(biāo)準(zhǔn)完全兼容。數(shù)年之后,在汽車及其供應(yīng)鏈成立了數(shù)百家清潔度實(shí)驗(yàn)室。與此同時(shí),也有無(wú)數(shù)家獨(dú)立服務(wù)的實(shí)驗(yàn)室開(kāi)始運(yùn)作。今天,受影響的眾多公司中的很多職位甚至整個(gè)部門,都在各個(gè)方面協(xié)調(diào)和提升零部件清潔度。

在第一次VDA-19出版的十年后,德國(guó)汽車行業(yè)提出修訂和擴(kuò)展規(guī)范的要求。其主要目的是提高清潔度測(cè)試結(jié)果的可對(duì)比性,并且增加污染物萃取和分析的新技術(shù)內(nèi)容?;谛碌腣DA-19標(biāo)準(zhǔn)于2015年3月份出版, ISO-16232修訂委員會(huì)也相應(yīng)成立,目的是將新VDA-19標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移到國(guó)際水平。新的ISO-16232預(yù)計(jì)將于2016/2017年出版。

如今,這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)成為了全球范圍內(nèi)汽車行業(yè)中的零部件清潔度分析的框架。特別是VDA-19標(biāo)準(zhǔn)中,提到了很多實(shí)用并有詳細(xì)說(shuō)明的關(guān)于零部件表面污染物顆粒的萃取和定量分析的最常用的方法。

測(cè)試方法

所有清潔度分析都分為三個(gè)步驟(圖2)。首先,通過(guò)萃取液收集零部件表面的污染物顆粒。第二步,用過(guò)濾膜對(duì)萃取液體進(jìn)行過(guò)濾。最后一步,將過(guò)濾膜進(jìn)行分析以確定顆粒的質(zhì)量,數(shù)量,尺寸和類型。

零部件清潔度測(cè)試的基本方案

圖2:零部件清潔度測(cè)試的基本方案

萃取

最常見(jiàn)的顆粒的萃取方法是用壓力流體沖洗零部件表面。對(duì)于不同的樣品類型的一些典型的示范如圖3。

圖3:不同樣品類型的壓力沖洗示范

另一個(gè)普遍的方法是用超聲波清洗機(jī)的來(lái)萃取顆粒。雖然在實(shí)驗(yàn)室中很容易實(shí)現(xiàn)應(yīng)用,但該方法的使用在過(guò)去幾年中變得不那么流行。對(duì)于鑄造的零部件,超聲波清洗可能會(huì)產(chǎn)生誤導(dǎo)的結(jié)果。超聲波的能量會(huì)損壞鑄造材料的基體,因此可能產(chǎn)生新的顆粒而造成顆粒分析結(jié)果的不正確。還有其他方法是內(nèi)部清洗和通過(guò)搖晃來(lái)攪拌清洗,這些方法用于零部件內(nèi)表面的顆粒萃取。另外,新修訂的VDA-19標(biāo)準(zhǔn)中又引入了一個(gè)新方法,就是通過(guò)壓力空氣流來(lái)萃取顆粒。這個(gè)方法的是用于一些工況條件不暴露于液體中的零部件。不過(guò),空氣萃取的方法還沒(méi)有廣泛建立起來(lái)。

關(guān)于萃取液,含表面活性劑洗滌劑的水基溶液是,因?yàn)樵谑褂煤罂梢杂媒?jīng)濟(jì)的方式處理。然而,如果零件的表面是油性或油膩的,則水機(jī)溶液的萃取效果就不是很好了。在這種情況下,推薦使用冷清洗溶劑。通常情況下,用過(guò)的冷清洗溶劑會(huì)通過(guò)細(xì)過(guò)濾來(lái)回收利用。

過(guò)濾

通過(guò)液體的真空過(guò)濾,顆粒被制備在過(guò)濾膜上。為了選擇合適的過(guò)濾膜,必須考慮過(guò)濾膜對(duì)抗液體的化學(xué)穩(wěn)定性和濾膜孔的尺寸。有發(fā)泡膜和網(wǎng)格膜(圖4)。

圖4:發(fā)泡濾膜和網(wǎng)膜的結(jié)構(gòu)對(duì)比

圖4:發(fā)泡濾膜和網(wǎng)膜的結(jié)構(gòu)對(duì)比

發(fā)泡濾膜的結(jié)構(gòu)是像海綿一樣,因此過(guò)濾效率高。由于這個(gè)原因,發(fā)泡膜非常適合于確定總顆粒的質(zhì)量。另外,發(fā)泡濾膜的可用的孔徑可低至亞微米水平,所以甚至有可能進(jìn)行最小顆粒的分析。

另外一方面,如果零件上的顆粒以小顆粒為主或萃取液中有碳黑,則過(guò)濾后會(huì)得到一個(gè)黑色背景的濾膜。在這種情況下,顆粒的光學(xué)分析往往是不可能的。出于這個(gè)原因,VDA-19標(biāo)準(zhǔn)推薦一種孔徑大小為5μm的聚乙烯(PET)的網(wǎng)膜作為標(biāo)準(zhǔn)膜。網(wǎng)膜不會(huì)出現(xiàn)黑色的背景,因此,5μm的PET過(guò)濾膜非常適合于光學(xué)粒度分析。此外,PET膜在許多萃取液下都可以表現(xiàn)出很好的化學(xué)穩(wěn)定性。然而,最小的網(wǎng)孔直徑為5μm,所以,光學(xué)分析限于顆粒大于25μm到50μm。請(qǐng)注意,這兩種類型的濾膜需要時(shí)可以結(jié)合在同一個(gè)雙層濾網(wǎng)上使用。

對(duì)于提取和過(guò)濾,兩個(gè)技術(shù)的在市場(chǎng)上都可以實(shí)現(xiàn)。一種簡(jiǎn)單而經(jīng)濟(jì)的方法是使用實(shí)驗(yàn)室噴壺用于粒子提取和一個(gè)玻璃真空過(guò)濾器用于過(guò)濾制備濾膜。此方法對(duì)于可以放入燒杯中的中小尺寸的零部件非常適用且很好操作。另一種可能性是使用集噴水器、過(guò)濾、液體循環(huán)于一體的自動(dòng)清洗柜。相對(duì)于實(shí)驗(yàn)室的簡(jiǎn)單裝置,使用清洗柜使人力操作減少,但成本會(huì)更高。

稱重法顆粒分析

通過(guò)稱重,獲取顆粒的總質(zhì)量是相當(dāng)簡(jiǎn)單的。也就是只需稱出過(guò)濾膜在過(guò)濾前和過(guò)濾后的重量,兩者之間的差異就等于顆粒的總質(zhì)量。為了得到正確的結(jié)果,對(duì)過(guò)濾膜進(jìn)行前處理是非常重要的。通常,將濾膜浸入萃取液中,然后在烘箱中干燥,最后按預(yù)定時(shí)間儲(chǔ)存在干燥器中。請(qǐng)注意,在技術(shù)上是很難去量化顆??傊亓啃∮?mg的顆粒。因此要求一個(gè)高端的天平和一間環(huán)境條件恒定的房間。如果重量要求嚴(yán)格,則建議一大批樣品一起測(cè)試。

粒度式顆粒分析(Granulometric Particle Analysis)

新VDA-19標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)認(rèn)同簡(jiǎn)化顆粒清潔度分析儀器的發(fā)展趨勢(shì),正如光學(xué)掃描儀。在修訂過(guò)程中,VDA-19工作組將多家自動(dòng)化光學(xué)顯微鏡與MicroQuick?顆粒清潔度掃描儀進(jìn)行了循環(huán)測(cè)試的考驗(yàn)。這種比較的目的是在不同的儀器間建立一套參數(shù),使測(cè)試結(jié)果更有可比性 。 測(cè)試結(jié)果發(fā)現(xiàn),通過(guò)以一致的方式調(diào)節(jié)照明水平和顆粒檢測(cè)閾值,所得到的定量結(jié)果幾乎一致。關(guān)于粒度標(biāo)準(zhǔn)分析,光學(xué)顯微鏡和平板掃描儀被認(rèn)為是可以同等的符合新的VDA-19標(biāo)準(zhǔn)中(圖 5)描述的程序工作。

圖5:光學(xué)顆粒分析的儀器設(shè)置

圖5:光學(xué)顆粒分析的儀器設(shè)置

根據(jù)VDA-19的描述,弱化/避開(kāi)最小顆粒測(cè)試是近來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)。對(duì)于許多實(shí)際案例,5-50μm是沒(méi)有相關(guān)性的,并且對(duì)那么小的顆粒進(jìn)行分析甚至是一種工作的阻礙,因?yàn)閷?duì)那么小的顆粒進(jìn)行分析工作量很大。因此,現(xiàn)在已將顆粒大于50μm的顆粒分析作為標(biāo)準(zhǔn)化。而只有少數(shù)的特殊案例需要分析小于50微米的顆粒。通常,顆粒大小分布表示為不同尺寸級(jí)別以及對(duì)應(yīng)可容納的顆粒數(shù)量(圖6)。

清潔度分析表達(dá)式

圖6:零部件清潔度分析中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)表達(dá)式


根據(jù)定義,在過(guò)濾膜上檢測(cè)到的任何物狀都稱為顆粒。在這些顆粒中,有軟纖維和硬質(zhì)顆粒。在任何的光學(xué)系統(tǒng)中,纖維和粒子之間是根據(jù)形狀來(lái)識(shí)別區(qū)分的,另外,光學(xué)儀器能夠檢測(cè)金屬反射。因此,這樣通過(guò)看顆粒上的金屬光澤可更簡(jiǎn)單的區(qū)分無(wú)光澤和金屬光澤粒子。

擴(kuò)展顆粒材質(zhì)分析

如VDA-19標(biāo)準(zhǔn)中描述的擴(kuò)展式顆粒分析技術(shù)。用X射線元分析(SEM-EDX)的自動(dòng)掃描電子顯微鏡廣泛用于世界各地的清潔度實(shí)驗(yàn)室。

由FEI制造的ASPEX Explorer是針對(duì)汽車清潔中顆粒分析的特殊需求而定制的儀器。,該系統(tǒng)能夠以驚人的速度全自動(dòng)地識(shí)別顆粒的各類材料,顆粒尺寸可以低至1μm甚至更小(見(jiàn)圖7),

擴(kuò)展顆粒材質(zhì)分析

清潔實(shí)推薦以下的設(shè)備和服務(wù)機(jī)構(gòu)驗(yàn)室如果不愿意購(gòu)置一臺(tái)高成本的SEM-EDX設(shè)備,則可將其實(shí)驗(yàn)的分析任務(wù)外包給有資質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室服務(wù)機(jī)構(gòu),如德國(guó)RJL公司。

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